光学显微镜与医疗设备测试中的扫描电子显微镜

光学显微镜和扫描电子显微镜是医疗器械行业的基本检查方法，每个都具有独特的益处和能力。

扫描电子显微镜（SEM）和光学显微镜（OM）之间的主要区别是施加到样品的光束类型。对于光学显微镜，施加光束，允许观察者分析光的效果，因为它与样品相互作用。相反，扫描电子显微镜使用一束电子来检查样品，允许观察者分析电子与材料相互作用的影响。

的优点和缺点

光学显微镜是一种用于一般检查目的的理想方法，但扫描电子显微镜可以提供具有令人难以置信的详细地形和组成信息的用户。扫描电子显微镜通常具有三种类型的检测器：二次电子检测器（SED），背散射电子检测器（BSED）和能量分散频谱检测器（EDS）。

该SED向用户提供详细的地形信息，因为二次电子主要与样品表面相互作用并且具有大的反射角，而BSED向用户提供基本地形和基本的组成信息，因为背散散射的电子进一步渗透到材料中，并且具有较小的反射角度。组成数据是相对的 - 原子数材料显得暗，高原子数材料在SEM中看出光线，但是精确的化学组成不能由BSED提供。yabo娱乐vip

EDS提供详细的化学成分信息。在某些情况下，使用扫描电子显微镜作为二次检查方法是有益的。首先，光学显微镜用于观察总缺陷。可以使用这种方法轻松操纵样本，并且可以相对较快地绘制和记录所有总缺陷以进行进一步审查。接下来，扫描电子显微镜用于更详细地观察图表的总缺陷，并观察光学显微镜未见的微缺陷。这种两相方法结合了与每种检查方法相关的益处，并在更少的时间内提供更详细的检查（与仅限SEM的全面检查相比）。

元素具有ASPEX型号3025 SEM系统，具有自动特征分析（AFA）软件和EDS（能量分散频谱）功能。该系统用于检查医疗器械的缺陷以及颗粒分析研究。对于后来，从装置上捕获的颗粒在金或碳镀滤液上捕获，并且在SEM中置于SEM中的最多6个过滤器以进行后续分析。AFA软件单独分析每个过滤器，并在每个粒子上聚集大量数据。

结论

光学显微镜和扫描电子显微镜是医疗器械行业的基础检查方法，元素提供了两种能力。每个都有优缺点，我们的测试工程师将帮助您确定哪个最适合您的测试需求。当结合我们广泛的测试知识时，您可以确信元素提供的检验数据是业内最能提供的。